芯片測試冷熱沖擊實驗箱

芯片測試冷熱沖擊實驗箱是一種模擬自然界溫度急 劇變化的試驗設備,通過它能測試產品在溫度快速變化的過程中所受到的物理和化學方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產品潛在的質量問題，進而對其改進優(yōu)化。冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、航空、航天、橡膠、電子等材料行業(yè)*的試驗設備。

芯片測試冷熱沖擊實驗箱符合標準：

1、GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件2、GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件3、GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《高溫試驗方法Bb》

6、GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

7、GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

8、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

性能參數(shù)參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。

二、溫度偏差：±2℃。

三、溫度波動度：±0.5℃。

四、溫度恢復時間：≤5min。

五、溫度恢復條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉移方式：采用氣動驅動。   

七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音）

十、型號             內箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0