芯片恒溫恒濕測試箱 恒溫恒濕試驗箱

芯片恒溫恒濕測試箱常用于中小大型等企業及生產廠家試驗室做試驗用的，所以也可以高精度恒溫恒濕試驗箱。精度是測量值與真值的接近程度。高精度恒溫恒濕箱是指試驗箱的溫度分布均勻度非常精準，能滿足標準要求的精度。

工作室內箱尺寸寬*高*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100。

此類設備溫度解析精度為0.01℃，濕度解析精度為0.1%R.H，溫度控制精度為±0.2℃，濕度控制精度為±2%R.H，溫度均勻度為±2℃，濕度均勻度為≤±3%R.H（+2、-3%RH），溫度波動度為±0.5℃，濕度波動度：±2%，以上均為行業標準要求的精度指標，柳沁產品保證達到。

芯片恒溫恒濕測試箱執行標準：

性能指標符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

GJB150.9-1986《設備環境試驗方法：濕熱試驗》。

GJB4.5-1983《船舶電子設備環境試驗恒定濕熱試驗》。

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）。

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。